국민대 공동기기원과 LINC 3.0 사업단이 공동으로 주최하고, 산업통상자원부 반도체 전공트랙 사업단이 후원하는 이번 ‘첨단기기 분석 세미나’는 4명의 현직 첨단기기 분석 전문가를 초청해 대학(원)생뿐만 아니라 산학협력 가족회사 임직원들을 대상으로 장비별ㆍ분야별 특성에 맞는 이론 교육을 제공해 첨단 연구장비의 공동활용을 촉진하기 위해 마련됐다

세미나에서는 표면ㆍ구조분석 장비를 주제로 주사전자현미경(SEM), 투과전자현미경(TEM), X선 광전자 분광기(XPS), 원자탐침현미경(AFM)에 대한 교육이 진행될 예정이다.

먼저, 11일에는 이공교역 강주영 과장이 ‘SEM: 주사전자현미경의 기본원리 및 SU8700 기능소개’를, JEOL Korea 박중식 책임이 ‘TEM: 투과전자현미경의 기본원리 및 시료제작법’에 대한 교육을 진행한다. 12일에는 국민대학교 류일환 박사가 ‘XPS: 광전자 분석법의 기초 및 응용’을, 그리고 Park systems 지영지 대리가 ‘AFM: AFM 기본원리 및 EFM, KPFM 소개’를 주제로 연구장비를 활용해 산업현장과 연구실에서 필요로 하는 전문지식과 노하우를 제공한다.

김대정 국민대 공동기기원 원장(전자공학부 교수)은 “우리 대학은 특성화 분야 인프라 확충을 통한 융복합 인재 양성 체계와 산학연협력 고도화에 앞장서 왔다”며 “앞으로 대학이 보유한 첨단 연구 장비의 공동 활용을 촉진하기 위해 분야별·수준별 교육 프로그램을 더욱 확대해 나가겠다”고 전했다.

이번 첨단기기 분석 세미나는 연구 장비 활용에 관심이 있는 사람이면 누구나 국민대 공동기기원 홈페이지를 통해 신청할 수 있으며, 교육비는 전액 무료다. 교육 이수자에게는 국민대 공동기기원장 명의의 수료증도 수여될 예정이다.